2020年2月7日，由我司主導(dǎo)制定的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC/TS 62607-4-8：2020《納米制造 關(guān)鍵控制特性第4-8部分：納米電能儲(chǔ)存器件 電極納米材料中水分含量的測(cè)定，卡爾費(fèi)休法》正式發(fā)布。至此，我司主導(dǎo)或參與制定了3項(xiàng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（另外兩項(xiàng)是IEC/TS 62607-4-2：2016和IEC/TS 62607-4-6：2018），9項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和3項(xiàng)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC/TS 62607-4-8：2020《納米制造 關(guān)鍵控制特性 第4-8部分：納米電能儲(chǔ)存器件 電極納米材料中水分含量的測(cè)定，卡爾費(fèi)休法》規(guī)定了一種使用卡爾·費(fèi)休庫(kù)侖滴定法測(cè)定納米電能儲(chǔ)存器件中電極納米材料水分含量的測(cè)試方法。

電極納米材料的水分含量作為質(zhì)量控制測(cè)試需要確定的重要指標(biāo)之一，水會(huì)影響納米電能儲(chǔ)存器件的電氣性能、循環(huán)性能和安全性能。

對(duì)于材料水分的測(cè)試，通常采用的方法為重量法、干燥法等，但存在測(cè)試精度不高，參數(shù)設(shè)置不統(tǒng)一，不具有普適性等問題?？枴べM(fèi)休法是國(guó)際公認(rèn)的測(cè)定物質(zhì)水分含量最專一、最準(zhǔn)確的化學(xué)方法，具有操作簡(jiǎn)單、測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)。其中的卡爾·費(fèi)休庫(kù)侖滴定法，尤其擅于準(zhǔn)確測(cè)定電極納米材料等低含水量樣品中的微量水分（1 ppm～1000 ppm）。